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首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 玻璃/炭素(石墨)材料實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)儀器

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名稱(chēng)： DXR 炭素材料顯氣孔率、容重、體積密度測(cè)定儀

簡(jiǎn)介：該儀器系采用真空法對(duì)陶瓷制品、耐火材料、炭素,石墨等材料的顯氣孔率、容重，體積密度進(jìn)行測(cè)定的儀器。該儀器滿(mǎn)足 GB/T6156《炭素材料顯氣孔率測(cè)定方法》、GB/T242528-2009炭素材料體積密度測(cè)定方法》。
名稱(chēng)： DZY-II智能炭素（石墨）電阻率測(cè)試儀

簡(jiǎn)介：電阻率測(cè)試是研究材料物理導(dǎo)電性能的一個(gè)重要參數(shù)指標(biāo)，本儀器適用于在常溫下對(duì)炭素材料導(dǎo)電性能的測(cè)試。符合標(biāo)準(zhǔn)該儀器可用來(lái)按ISO 11713-2000、YS/T63.2-2005和YS/T 64,YB/T 120-1997《炭素材料電阻率測(cè)量方法》。廣泛應(yīng)用在高等院校，科研單位，質(zhì)檢部門(mén)和生產(chǎn)廠(chǎng)的材料檢測(cè)。
名稱(chēng)： SGP-II 炭素(石墨)耐壓強(qiáng)度測(cè)定儀

簡(jiǎn)介： 采用伺服電機(jī)傳動(dòng)系統(tǒng)，均勻加載，顯示準(zhǔn)確，重復(fù)性好。本儀器適合適合GB/T1431-2019炭素材料耐壓強(qiáng)度測(cè)定方法
名稱(chēng)： CDZL炭素（石墨）智能電阻率測(cè)試儀（固體、粉末均可）

簡(jiǎn)介：電阻率測(cè)試是研究材料物理導(dǎo)電性能的一個(gè)重要參數(shù)指標(biāo)，本儀器適用于在常溫下對(duì)炭陽(yáng)極用煅后石油焦粉末電阻率性能的測(cè)試。符合標(biāo)準(zhǔn)YS/T 587.6-2006《炭陽(yáng)極煅后石油焦檢測(cè)方法》、 GB/T24525-2009《炭素電阻率測(cè)定方法及的要求》。該儀器也可用來(lái)按ISO 11713、YS/T63.2和YS/T 64標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)試陰極炭塊、預(yù)焙陽(yáng)極、陽(yáng)極糊陰極糊和炭素制品常溫的電阻率。廣泛應(yīng)用在高等院校，科研單位，質(zhì)檢部門(mén)和生產(chǎn)廠(chǎng)的材料檢測(cè)。
名稱(chēng)： PCY炭素(石墨)臥式熱膨脹系數(shù)測(cè)定儀

簡(jiǎn)介： 該儀器適用于GB/T3074.4-2019石墨電極熱膨脹系數(shù)(CTE)測(cè)定方法。
名稱(chēng)： RH-I玻璃軟化點(diǎn)測(cè)定儀

簡(jiǎn)介： 測(cè)定玻璃軟化點(diǎn)的專(zhuān)用儀器。符合GB/T28195-2011《玻璃軟化點(diǎn)測(cè)試方法》。
名稱(chēng)： SG 玻璃析晶電爐

簡(jiǎn)介：由于玻璃的內(nèi)能較同組成的晶體為高，所以玻璃處于介穩(wěn)狀態(tài)，在一定條件下存在著自發(fā)地析出晶體的傾向。這種出現(xiàn)晶體的現(xiàn)象叫做析晶，又稱(chēng)失透或反玻璃化。
名稱(chēng)： DZW-I 電阻溫度特性測(cè)定儀

簡(jiǎn)介：該儀器采用先進(jìn)的電子﹑數(shù)控技術(shù)，用于測(cè)試各種導(dǎo)電材料介質(zhì)（電阻）的阻值隨溫度變化的值，通過(guò)繪制電阻，溫度曲線(xiàn)，可以直觀(guān)地定性分析電阻溫度變化率。適用于大專(zhuān)院校電子材料實(shí)驗(yàn)室等的研究和各教學(xué)演示用
名稱(chēng)： DTM-II 動(dòng)態(tài)法（高溫）彈性模量測(cè)試儀

簡(jiǎn)介：儀器參照標(biāo)準(zhǔn)：GB5594.2,GB/T 3074.2，GB/T3074.2-2008《石墨電極彈性模量測(cè)定方法》GB/T5594楊氏彈性模量泊松比測(cè)試方法以及GB/T 2105,GB10700等
名稱(chēng)： SGW-II 炭素(石墨)抗折強(qiáng)度測(cè)定儀

簡(jiǎn)介：用伺服電機(jī)傳動(dòng)系統(tǒng)，均勻加載，顯示準(zhǔn)確，重復(fù)性好，本儀器適合適合GB/T3074.1-2021炭素材料抗折強(qiáng)度測(cè)定方法。
名稱(chēng)： SLW-I炭素(石墨)抗拉強(qiáng)度測(cè)定儀

簡(jiǎn)介： 無(wú)
名稱(chēng)： GDT-II 炭素高溫電阻率測(cè)試儀

簡(jiǎn)介：該電阻率測(cè)試儀是測(cè)量碳素材料，石墨等塊狀材料常溫、高溫下高導(dǎo)電性能的專(zhuān)用儀器。該儀器采用高精度穩(wěn)流源供電，電流、電壓自動(dòng)顯示,并且穩(wěn)定,準(zhǔn)確,直觀(guān),方便。靈活的測(cè)試試樣平臺(tái)適用于不同直徑和不同長(zhǎng)度的試樣的測(cè)試。滿(mǎn)足GB/T24525-2009《炭素電阻率測(cè)定方法及的要求》。該儀器也可用來(lái)按ISO 11713-2000、YS/T63.2-2005和YS/T 64標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)試陰極炭塊、預(yù)焙陽(yáng)極、陽(yáng)極糊陰極糊和炭素制品常溫、高溫下的電阻率。
名稱(chēng)： GKZ-II炭素高溫抗壓抗折試驗(yàn)機(jī)

簡(jiǎn)介： 無(wú)
名稱(chēng)： SMDR-II型石墨材料中溫導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀

簡(jiǎn)介： 滿(mǎn)足GB/T 8722-2019 《石墨材料中溫導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法》要求。
名稱(chēng)： PCY-C炭素/石墨材料立式熱膨脹儀(熱膨脹系數(shù)測(cè)定儀)

簡(jiǎn)介：本儀器用于檢測(cè)石墨、炭素等無(wú)機(jī)材料線(xiàn)變量、線(xiàn)膨脹系數(shù)、體膨脹系數(shù)、急熱膨脹、以及它們變化曲線(xiàn),對(duì)試樣進(jìn)行氣氛保護(hù)（可控）。適合GB/T3074.4-2016對(duì)石墨電極熱膨脹系數(shù)（CTE）的測(cè)定。也可以適用其它固體材料對(duì)大試樣要求的檢測(cè)。
名稱(chēng)：玻璃熱穩(wěn)定性試驗(yàn)機(jī)（水冷法）

簡(jiǎn)介： 該儀器用于測(cè)量玻璃制品的熱穩(wěn)定性，也可用于其他硅酸制品的熱穩(wěn)定性。

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